試驗箱HAST與PCT之間的區(qū)別

HAST（Highly Accelerated Stress Test，高加速應力試驗）和 PCT（Pressure Cooker Test，高壓鍋試驗）是兩種常見的可靠性測試方法，它們存在以下區(qū)別：

一、試驗原理

HAST

HAST 是通過同時施加高溫、高濕和高壓環(huán)境來加速產品內部可能發(fā)生的物理和化學反應，以快速暴露產品潛在的可靠性問題。它模擬的是產品在惡劣環(huán)境下長期使用可能出現的失效模式，環(huán)境條件更為嚴峻。

例如，在半導體封裝測試中，HAST 可以使水汽更快地滲透到封裝內部，檢測封裝的防潮性能和內部連接的可靠性。

PCT

PCT 主要側重于在高溫和高濕且處于一定壓力的環(huán)境下對產品進行測試。它利用了在壓力環(huán)境下，水的沸點升高的原理，使產品在高于正常沸點的溫度和濕度環(huán)境下接受考驗。

例如，對于電子元器件，PCT 可以模擬其在潮濕、高溫環(huán)境下（如熱帶地區(qū)戶外設備內的環(huán)境）的使用情況，觀察其是否會因濕氣侵入而產生短路等故障。

二、試驗條件

溫度范圍

HAST：通常溫度范圍可以達到 105 - 130℃甚至更高，這比 PCT 的溫度更高。

PCT：一般溫度在 100 - 121℃之間。

濕度范圍

HAST：濕度通常接近 100% RH，并且在高溫高壓環(huán)境下，水汽對產品的滲透作用更強。

PCT：濕度也是接近飽和狀態(tài)，但由于溫度和壓力條件相對溫和一些，水汽滲透的劇烈程度略低于 HAST。

壓力范圍

HAST：壓力可以達到 2 - 3 個大氣壓甚至更高，以進一步加速水汽的滲透和化學反應。

PCT：壓力一般在 1.2 - 2 個大氣壓左右，壓力環(huán)境相對較溫和。

三、應用領域

HAST

主要應用于對可靠性要求高的產品，特別是在半導體、航空航天電子設備等領域。這些產品一旦在實際使用中出現故障，修復成本高，所以需要通過更嚴格的 HAST 來確保其可靠性。

例如，在航天級芯片的生產中，HAST 是必要的測試環(huán)節(jié)，用于檢測芯片在極-端環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。

PCT

廣泛應用于消費電子產品、一般工業(yè)電子設備等領域。這些產品的使用環(huán)境相對沒有那么惡劣，但也需要一定的可靠性保障。

比如，普通的手機主板、家用電器控制板等會采用 PCT 進行初步的可靠性測試，確保產品在正常使用壽命內不會因潮濕和高溫而輕易失效。